CHARACTERISTICS OF IRRADIATED GERMANIUM THIN FILMS DEPOSITED ONTO SILICON SUBSTRATES BY RUTHERFORD BACKSCATTERING AND THERMOLUMINESCENCE

العنوان بلغة أخرى: دراسة خواص رقائق جيرمانيوم مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي والتوهج الحراري
المؤلف الرئيسي: Salem, Shadi Mohammed
مؤلفين آخرين: Arafah, Dia Aldin M. (super)
التاريخ الميلادي: 2003
موقع: عمان
الصفحات: 1- 54
رقم MD: 548146
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: العربية
الدرجة العلمية رسالة ماجستير
الجامعة الجامعة الاردنية
الكلية كلية الدراسات العليا
الدولة الاردن
المصدر: قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة تمت المناقشة
قواعد المعلومات: Thesis
رابط المحتوى:
ملحوظات: دراسة خواص مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي والتوهج الحراري
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
وصف العنصر: دراسة خواص مشععة مبخرة على ركائز من السيليكون باستخدام تقنيتي التشتت الخلفي والتوهج الحراري
الوصف المادي: 1- 54