مارك: ٌReducing Test Power for Embedded Memories

المؤلف الرئيسي:	Awad, Ahmed
مؤلفين آخرين:	Abu Issa, Abd Allatif (SUPER)
التاريخ الميلادي:	2011
موقع:	بيرزيت
الصفحات:	1 - 71
رقم MD:	553567
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية	رسالة ماجستير
الجامعة	جامعة بيرزيت
الكلية	كلية تكنولوجيا المعلومات
الدولة	فلسطين
المصدر:	قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis
رابط المحتوى:	المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية

LEADER	00867nam a22002177a 4500
001	1437671
040		\|a قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
041		\|a ara
100		\|9 21883 \|a Awad, Ahmed \|e AUTH
245		\|a ٌReducing Test Power for Embedded Memories
260		\|c 2011 \|a بيرزيت
300		\|a 1 - 71
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة بيرزيت \|f كلية تكنولوجيا المعلومات \|g فلسطين \|o 0013
653		\|a حماية الاستهلاك \|a القدرة الاستهلاكية
700		\|9 7235 \|a Abu Issa, Abd Allatif \|e SUPER
856		\|u http://search.mandumah.com/Record/553567 \|y المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
940		\|a تمت المناقشة
950		\|c 553567
995		\|a Thesis
999		\|c 156769 \|d 156769