Characterization of Si-Fe systems by rutherford backscattering spectrometry
| العنوان بلغة أخرى: |
تعيين خواص أنظمة Si-Fe بواسطة مطيافية تشتت رذرفورد الخلفي |
|---|---|
| المؤلف الرئيسي: | Bouzieh, Tahani Abd Alhafez |
| مؤلفين آخرين: | Arafah, Dia Aldin M. (super) |
| التاريخ الميلادي: |
2004
|
| موقع: | عمان |
| الصفحات: | 1 - 54 |
| رقم MD: | 605904 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة ماجستير |
| الجامعة | الجامعة الاردنية |
| الكلية | كلية الدراسات العليا |
| الدولة | الاردن |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 54 |
|---|
عناصر مشابهة
-
Study of the charactaristics of doped and ion irradiated KBr phosphors studied by rutherford backscattering
بواسطة: Al Drabee, Al layth Turkiy منشور: (2004) -
Atomic Negative Ion Survey Using Accelerator Mass Spectrometry
بواسطة: Garwan, Muhammad Ahmad منشور: (1993) -
Thermodynamic properties of some fullerene nanosystems
بواسطة: Hawamdeh, Mustafa Mohammed منشور: (2010) -
Pseudorotation in Jahn-Teller Systems
بواسطة: Sindi, Lubna M. منشور: (2008) -
Theoretical studies of the electronic structure of the ions KCs and RbCs
بواسطة: Abd Alal, Saleh Nabhan منشور: (2000)