مارك: Ellipsometry of Ge/Al multilayer thin film systems

العنوان بلغة أخرى:	مطيافية القطع الناقص لأنظمة متعددة الطبقات لأغشية رقيقة من الجرمانيوم - الألمنيوم
المؤلف الرئيسي:	Al Mahasneh, Abd Allah Ahmed
مؤلفين آخرين:	Shahin, Issa, Al Attar, Hameed (Super)
التاريخ الميلادي:	2001
موقع:	عمان
الصفحات:	1 - 115
رقم MD:	610087
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية	رسالة ماجستير
الجامعة	الجامعة الاردنية
الكلية	كلية الدراسات العليا
الدولة	الاردن
المصدر:	قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis
رابط المحتوى:	المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية

LEADER	01160nam a22002417a 4500
001	0021715
040		\|a قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
041		\|a ara
100		\|9 14917 \|a Al Mahasneh, Abd Allah Ahmed \|e Auth.
245		\|a Ellipsometry of Ge/Al multilayer thin film systems
246		\|a مطيافية القطع الناقص لأنظمة متعددة الطبقات لأغشية رقيقة من الجرمانيوم - الألمنيوم
260		\|a عمان \|c 2001
300		\|a 1 - 115
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c الجامعة الاردنية \|f كلية الدراسات العليا \|g الاردن \|o 10400
653		\|a مطيافية القطع الناقص \|a الاغشية الرقيقة \|a الجرمانيوم - الألمنيوم \|a الفيزياء
700		\|9 47564 \|a Shahin, Issa \|e Super
700		\|9 9834 \|a Al Attar, Hameed \|e Super
856		\|u http://search.mandumah.com/Record/610087 \|y المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
940		\|a تمت المناقشة
950		\|c 610087
995		\|a Thesis
999		\|c 190819 \|d 190819