Study of ellipsometric applications and examination of optical anisotroy in aluminium and silicom oxides
| المؤلف الرئيسي: | Yaghmour, Saud Jamil |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Neal, W. E. J. (Super) |
| التاريخ الميلادي: |
1985
|
| موقع: | برمنغهام |
| الصفحات: | 1 - 256 |
| رقم MD: | 610768 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | Aston University |
| الكلية | School of Engineering and Applied Science |
| الدولة | بريطانيا |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 256 |
|---|
عناصر مشابهة
-
DETERMINATION OF THE DEGREE OF COHERENCE LIGHT BY USING THE MAGNETO-OPTIC DIFFRACTION
بواسطة: Yaghmour, Saud Jamil منشور: (1981) -
Surface Modification of Zinc Oxide Based Thin Films for Gas Sensing Applications
بواسطة: Drmosh, Qasem Ahmed Qasem منشور: (2016) -
Optical properties of metal doped titanium oxide films preoared by sol gel spin coating technique
بواسطة: Al Shahatit, Mohammad Khalil منشور: (2010) -
Synthesis and Optical Properties of Cobalt Oxide Thin Film
بواسطة: Osman, Asma Ibrahim Mudawi منشور: (2015) -
Characterization of Optical Properties Of Doped Zno THin Films
بواسطة: Al Ofi, Huda Hammed منشور: (2012)