DEFECT AND INTERFACE STATES AS MEASURED BY PHOTOREFLECTANCE
| المؤلف الرئيسي: | Al Zamil, Mohammed A. |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Glosser, Robert (super) |
| التاريخ الميلادي: |
2005
|
| موقع: | أوستن |
| الصفحات: | 1 - 173 |
| رقم MD: | 613121 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | University of Texas |
| الكلية | The Graduate School |
| الدولة | الولايات المتحدة الأمريكية |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 173 |
|---|
عناصر مشابهة
-
Design of A 130nm Strained Silicon on Insulator SSOI Nomsfet
بواسطة: Al Ghofinah, Mohammed منشور: (2006) -
A Three-Dimensional Mechanistic Model of Steam Condensers Using Porous Medium Formulation
بواسطة: Al Johani, Mohammed S. منشور: (1996) -
INVESTIGATION OF SOME DECAY SCHEMES BY LOW ENERGY NUCLEAR SPECTROSCOPY METHODS.
بواسطة: Mansour, Gamal Al Sayed Wehibei منشور: (1990) -
تصميم وبناء منظومة تجريبية لقياس أداء أنبوب حراري Design and Implementing a Heat Pipe Experimental System for Residential Heating
بواسطة: زينة علي عبد الرضا السعدي منشور: (2005) -
Space Charge Measurements on Electrical Insulator Materials
بواسطة: Al Ghamdi, Hisham Abd Allah منشور: (2009)