CHARACTERIZATION OF DEEP-LEVELS IN SEMICONDUCTORS BY PHOTO REFLECTANCE SPECTROSCOPY
| المؤلف الرئيسي: | AI Arfaj, Esam Abd Allah |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Alavi, Kambiz (super.) |
| التاريخ الميلادي: |
2001
|
| موقع: | ريتشاردسون |
| الصفحات: | 1 - 155 |
| رقم MD: | 616653 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | University of Texas at Dallas |
| الكلية | School of Arts and Humanities |
| الدولة | الولايات المتحدة الأمريكية |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 155 |
|---|
عناصر مشابهة
-
Contribution to the study of deep levels in some II-VI compounds using photoinduced current transient spectroscopy
بواسطة: Ashour, Habib منشور: (2000) -
PHOTO-METAL ORGANIC VAROUR PHASE EPITAXY OF II-VI SEMICONDUCTORS
بواسطة: Al Hamidi, Khalid Abd Alaziz منشور: (1989) -
Single Mode, Broad-Waveguide ARROW-type Semiconductor Diode Lasers
بواسطة: AI Muhanna, Abd Alrahman منشور: (2000) -
SPECTROSCOPIC, PHOTOELECTRIC AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY MEASUREMENTS FOR SOME ORGANIC SEMICONDUCTORS
بواسطة: El Ghandoor, Mohamed Awony Aly منشور: (1986) -
Statistical-kinetic theory of charge carriers transport in semiconductors
بواسطة: Al Drebe'a, Amani Mohammad منشور: (2001)