COUPLED ELECTRO-THERMAL SIMULATIONS OF SINGLE EVENT BURNOUT IN POWER DIODES
| المؤلف الرئيسي: | Al Badri, Abd Alrabman M. |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Schrimpf, Ronald (Super.) |
| التاريخ الميلادي: |
2005
|
| موقع: | ناشفيل، تينيسي |
| الصفحات: | 1 - 87 |
| رقم MD: | 620469 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | Vanderbilt University |
| الكلية | The Graduate School |
| الدولة | الولايات المتحدة الأمريكية |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 87 |
|---|
عناصر مشابهة
-
ON-CHIP TEC-QED ECC FOR ULTRA-LARGE, SINGLE-CHIP MEMORY SYSTEMS
بواسطة: Al Zahrani, Fahad Mousa منشور: (1993) -
Single Mode, Broad-Waveguide ARROW-type Semiconductor Diode Lasers
بواسطة: AI Muhanna, Abd Alrahman منشور: (2000) -
SIMULATION OF HIGH-FREQUENCY SEMICONDUcrOR DEVICES USING A FULL ELECIROMAGNETIC WAVE MODEL
بواسطة: Al Sunaidi, Mohammad Abd Alaziz منشور: (1995) -
Applications of Single-Tuned Harmonics Filter In Power Systems
بواسطة: Al Anezi, Aiyed Thani منشور: (2012) -
Reconfigurable Time Interval Measurement Circuit Incorporating a Programmable Gain Time Difference Amplifier
بواسطة: Al Ahmadi, Ahmed Naif منشور: (2012)