مارك: Laser Removal of Impurity Particles From Silicon Wafer Surface

العنوان بلغة أخرى:	الإزلة الليزرية للشوائب من سطح شريحة السليكون
المؤلف الرئيسي:	Al Jumaili, Hiba Khudhair Abbas
التاريخ الميلادي:	2007
موقع:	بغداد
التاريخ الهجري:	1428
الصفحات:	1 - 70
رقم MD:	557273
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية	رسالة ماجستير
الجامعة	جامعة النهرين
الكلية	كلية الهندسة
الدولة	العراق
المصدر:	قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis
رابط المحتوى:	المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية

LEADER	00949nam a22002177a 4500
001	1447112
040		\|a قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
041		\|a ara
100		\|9 13926 \|a Al Jumaili, Hiba Khudhair Abbas \|e Auth
245		\|a Laser Removal of Impurity Particles From Silicon Wafer Surface
246		\|a الإزلة الليزرية للشوائب من سطح شريحة السليكون
260		\|c 2007 \|m 1428 \|a بغداد
300		\|a 1 - 70
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة النهرين \|f كلية الهندسة \|g العراق \|o 0006
653		\|a الإزالة الليزرية \|a الشوائب \|a شريحة السليكون
856		\|u http://search.mandumah.com/Record/557273 \|y المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
940		\|a تمت المناقشة
950		\|c 557273
995		\|a Thesis
999		\|c 160431 \|d 160431