Deterministic built-in self test for digital circuits
| المؤلف الرئيسي: | Al Yamani, Ahmad A. |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | McCluskey, Edward J. (Super) |
| التاريخ الميلادي: |
2004
|
| موقع: | ستانفورد |
| الصفحات: | 1 - 126 |
| رقم MD: | 614816 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | Stanford University |
| الكلية | College of Engineering |
| الدولة | الولايات المتحدة الأمريكية |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 126 |
|---|
عناصر مشابهة
-
Automatic testing and fault detection for digital and microprocessor circuits
بواسطة: El Sherif, Hisham Mostafa Kamal منشور: (1991) -
COMPUTATIONAL CIRCUITS BASED ON CMOS OPERATING IN SUBTHRESHOLD REGION
بواسطة: Al Suhaibani, Eyas Saleh منشور: (2014) -
A NEW MEMRISTOR IMPLEMENTATION AND ITS APPLICATIONS IN ANALOG CIRCUITS
بواسطة: Khalifa, Zainul Abideen Jamal منشور: (2014) -
FPGA Application in Digital Circuit
بواسطة: Abd Algawad, Ahmed Mohamed منشور: (2003) -
SPICE PREPROCESSOR FOR HIGH-TEMPERATURE EFFECTS IN MOS INTEGRATED CIRCUITS
بواسطة: Al Solaim, Ahmad Mohammed منشور: (1996)