Automatic testing and fault detection for digital and microprocessor circuits
| المؤلف الرئيسي: | El Sherif, Hisham Mostafa Kamal |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Mahrous, Safwat M., Asfour, R. A., El Hennawy, H. (super) |
| التاريخ الميلادي: |
1991
|
| موقع: | القاهرة |
| الصفحات: | 1 - 141 |
| رقم MD: | 565408 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | العربية |
| الدرجة العلمية | رسالة ماجستير |
| الجامعة | جامعة عين شمس |
| الكلية | كلية الهندسة |
| الدولة | مصر |
| المصدر: | قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| رابط المحتوى: |
| الوصف المادي: |
1 - 141 |
|---|
عناصر مشابهة
-
Deterministic built-in self test for digital circuits
بواسطة: Al Yamani, Ahmad A. منشور: (2004) -
INVESTIGATION OF TRANSIENT SWITCHING PHENOMENA IN INDUCTIVE CIRCUITS
بواسطة: Abd Alaziz, Abd Alaziz Mohammad منشور: (1985) -
COMPUTATIONAL CIRCUITS BASED ON CMOS OPERATING IN SUBTHRESHOLD REGION
بواسطة: Al Suhaibani, Eyas Saleh منشور: (2014) -
A new matrix model for short circuit calculations using a digital computer
بواسطة: Ajffby, Mohammad Y. منشور: (1979) -
Metamodeling Methods for Analog Integrated Circuit Design Automation
بواسطة: Bani Irshaid, Ala'a Hussein منشور: (2011)