A new minimization technique of the error in short-channel mosfet circuits resulting from carrier mobility reduction

العنوان بلغة أخرى: طريقة جديدة لتقليل الخطأ الناجم عن تأثير حركة الالكترونات عير القناة في الدوائر الكهربائية والتي تستخدم ترانزستور قصير القناة من نوع MOSFET
المؤلف الرئيسي: As Sabban, Ibrahim Ali
مؤلفين آخرين: Al Absi, Munir (advisor)
التاريخ الميلادي: 2013
موقع: الظهران
الصفحات: 1 - 106
رقم MD: 738533
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة: العربية
الدرجة العلمية رسالة ماجستير
الجامعة جامعة الملك فهد للبترول والمعادن
الكلية عمادة الدراسات العليا
الدولة السعودية
المصدر: قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة تمت المناقشة
قواعد المعلومات: Thesis
رابط المحتوى:
ملحوظات: ملخص باللغة العربية
صورة الغلاف QR قانون
حفظ في:
وصف العنصر: ملخص باللغة العربية
الوصف المادي: 1 - 106

عناصر مشابهة