مارك: A new minimization technique of the error in short-channel mosfet circuits resulting from carrier mobility reduction

العنوان بلغة أخرى:	طريقة جديدة لتقليل الخطأ الناجم عن تأثير حركة الالكترونات عير القناة في الدوائر الكهربائية والتي تستخدم ترانزستور قصير القناة من نوع MOSFET
المؤلف الرئيسي:	As Sabban, Ibrahim Ali
مؤلفين آخرين:	Al Absi, Munir (advisor)
التاريخ الميلادي:	2013
موقع:	الظهران
الصفحات:	1 - 106
رقم MD:	738533
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية	رسالة ماجستير
الجامعة	جامعة الملك فهد للبترول والمعادن
الكلية	عمادة الدراسات العليا
الدولة	السعودية
المصدر:	قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis
رابط المحتوى:	المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
ملحوظات:	ملخص باللغة العربية

LEADER	01386nam a22002417a 4500
001	0297198
040		\|a قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
041		\|a ara
100		\|9 387995 \|a As Sabban, Ibrahim Ali \|e auth
245		\|a A new minimization technique of the error in short-channel mosfet circuits resulting from carrier mobility reduction
246		\|a طريقة جديدة لتقليل الخطأ الناجم عن تأثير حركة الالكترونات عير القناة في الدوائر الكهربائية والتي تستخدم ترانزستور قصير القناة من نوع MOSFET
260		\|a الظهران \|c 2013
300		\|a 1 - 106
336		\|a رسائل جامعية
500		\|a ملخص باللغة العربية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة الملك فهد للبترول والمعادن \|f عمادة الدراسات العليا \|g السعودية \|o 0661
653		\|a الهندسة الكهربائية \|a الدوائر الكهربائية \|a موسفيت \|a تقييم الأخطاء \|a حركة الالكترونات
700		\|9 8968 \|a Al Absi, Munir \|e advisor
856		\|u http://search.mandumah.com/Record/738533 \|y المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
940		\|a تمت المناقشة
950		\|c 738533
995		\|a Thesis
999		\|c 221974 \|d 221974