INVESTIGATION OF ION IMPLANTATION CAUSED DAMAGE PROFILES BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY IN SEMICONDUTORS
| المؤلف الرئيسي: | MOHAMED ABDEL FATTAH EL SHERBINY |
|---|---|
| مؤلفين آخرين: | Ahmed M. Sanad, Jozef F. Gyulai, Mohamed Mahmoud El Oker (مشرف) |
| التاريخ الميلادي: |
1996
|
| الصفحات: | 105 |
| نوع المحتوى: | رسائل جامعية |
| اللغة: | الإنجليزية |
| الدرجة العلمية | رسالة دكتوراه |
| الجامعة | Al Azhar University/PHYSICS |
| الدولة | مصر |
| المصدر: | غير محدد |
| الحالة | تمت المناقشة |
| قواعد المعلومات: | Thesis |
| الوصف المادي: |
105 |
|---|
عناصر مشابهة
-
SPECTROSCOPIC TECHNIQUE FOR THE DETERMINATION OF SOME TRACE ELEMENTS IN PETROLEUM CRUDE
بواسطة: EMAD ABDEL-MALEK HASAN EL-ASHKAR منشور: (1990) -
OPTICAL AND ELECTRICAL PROPERTIES OF CADMIUM SULFIDE
بواسطة: MOHAMED ABD-ELFATTAH EL SHERBINY منشور: (1992) -
THEORETICAL INVESTIGATION OF NONLINEAR INTERACTION OF LIGHT WITH MATTER
بواسطة: MOHAMMAD ABDELKADER ABDEL FATTAH KHERELDEN منشور: (2015) -
STUDY OF THE STRUCTURAL AND PHYSICAL PROPERTIES OF SOME BOROPHOSPHATE GLASSESS CONTAINING TRANSITION METAL IONS
بواسطة: HOSAM MOHAMED GOUMAA EL-CUTLAWY منشور: (2005) -
SPECTROSCOPIC INVESTIGATIONS OF SOME STRUCTURAL PROPERTIES OF EGYPTIAN WOOL VARIETIES
بواسطة: S. M. RABIE منشور: (1976)