مارك: INVESTIGATION OF ION IMPLANTATION CAUSED DAMAGE PROFILES BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY IN SEMICONDUTORS

المؤلف الرئيسي:	MOHAMED ABDEL FATTAH EL SHERBINY
مؤلفين آخرين:	Ahmed M. Sanad, Jozef F. Gyulai, Mohamed Mahmoud El Oker (مشرف)
التاريخ الميلادي:	1996
الصفحات:	105
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	الإنجليزية
الدرجة العلمية	رسالة دكتوراه
الجامعة	Al Azhar University/PHYSICS
الدولة	مصر
المصدر:	غير محدد
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis

LEADER	00716nam a2200241Ia 4500
001	1545121
040		\|a غير محدد
041		\|a eng
100		\|a MOHAMED ABDEL FATTAH EL SHERBINY \|e معد
245		\|a INVESTIGATION OF ION IMPLANTATION CAUSED DAMAGE PROFILES BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY IN SEMICONDUTORS
260		\|c 1996
300		\|a 105
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة دكتوراه
502		\|c Al Azhar University/PHYSICS
502		\|g مصر
653		\|a PHYSICS
700		\|a Ahmed M. Sanad \|e مشرف
700		\|a Jozef F. Gyulai \|e مشرف
700		\|a Mohamed Mahmoud El Oker \|e مشرف
940		\|a تمت المناقشة
995		\|a Thesis
999		\|c 266086 \|d 266086