مارك: Automatic testing and fault detection for digital and microprocessor circuits

المؤلف الرئيسي:	El Sherif, Hisham Mostafa Kamal
مؤلفين آخرين:	Mahrous, Safwat M., Asfour, R. A., El Hennawy, H. (super)
التاريخ الميلادي:	1991
موقع:	القاهرة
الصفحات:	1 - 141
رقم MD:	565408
نوع المحتوى:	رسائل جامعية
اللغة:	العربية
الدرجة العلمية	رسالة ماجستير
الجامعة	جامعة عين شمس
الكلية	كلية الهندسة
الدولة	مصر
المصدر:	قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
الحالة	تمت المناقشة
قواعد المعلومات:	Thesis
رابط المحتوى:	المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية

LEADER	01026nam a22002417a 4500
001	1461733
040		\|a قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
041		\|a ara
100		\|9 29231 \|a El Sherif, Hisham Mostafa Kamal \|e auth
245		\|a Automatic testing and fault detection for digital and microprocessor circuits
260		\|c 1991 \|a القاهرة
300		\|a 1 - 141
336		\|a رسائل جامعية
502		\|b رسالة ماجستير \|c جامعة عين شمس \|f كلية الهندسة \|g مصر \|o 0002
653		\|a الهندسة الكهربائية \|a الدوائر الالكترونية \|a المعالجات الصغيرة
700		\|9 39041 \|a Mahrous, Safwat M. \|e super
700		\|9 21433 \|a Asfour, R. A. \|e super
700		\|9 27955 \|a El Hennawy, H. \|e super
856		\|u http://search.mandumah.com/Record/565408 \|y المستخلص من قاعدة المنظومة للرسائل الجامعية
940		\|a تمت المناقشة
950		\|c 565408
995		\|a Thesis
999		\|c 168402 \|d 168402